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机构	日期	题名	作者
元智大學	Sep-21	Deep learning from imbalanced data for automatic defect detection in multicrystalline solar wafer images	Du-Ming Tsai; Yi-Quan Huang; Wei-Yao Chiu
元智大學	2019-02-25	Saw-mark Defect Detection in Heterogeneous Solar Wafer Images using GAN-based Training Samples Generation and CNN Classification	Du-Ming Tsai; Shu-Kai Fan; Yi-Quan Huang; Wei-Yao Chiu
元智大學	2018	以深度學習於不平衡資料集之自動化視覺瑕疵檢測	黃義權; Yi-Quan Huang

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