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| 國立臺灣大學 |
2007-01 |
The Relationship Between the Location of Obstacle and Indoor Particle Deposition
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Ho, J.E.; Young, H.T. |
| 國立臺灣大學 |
2007-01 |
Surface Integrity of Silicon Wafer in Ultra Precision Machining
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Young, H.T.; Liao, H.T. |
| 國立臺灣大學 |
2007-01 |
Novel Method to Investigate the Critical Depth of Cut of Ground Si Wafer
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Young, H.T.; Liao, H.T. |
| 國立臺灣大學 |
2007-01 |
Integrated Rough Machining Methodology for Centrifugal Impeller Manufacturing
|
Young, H.T.; Chung, E. |
| 國立臺灣大學 |
2007-01 |
Online Dressing of Profile Grinding Wheels
|
Young, H.T.; Chen, D.J. |
| 國立臺灣大學 |
2006-10 |
Development of Automatic 3D Profile Measuring System
|
Young, H.T.; Lin, W.Y. |
| 國立臺灣大學 |
2006-08 |
Integrated Rough Machining Methodology for Centrifugal Impeller Manufacturing
|
Young, H.T.; Chung, E. |
| 國立臺灣大學 |
2006-07 |
Precision Wafer Thinning and Its Surface Conditioning Technique
|
Young, H.T.; Lin, C.C.; Liao, H.T. |
| 國立臺灣大學 |
2006-03 |
Development of Automatic 3D Profile Measuring System
|
Young, H.T.; Lin, W.Y. |
| 國立臺灣大學 |
2005 |
Novel Method to Investigate the Critical Depth of Cut of Ground Si Wafer
|
Young, H.T.; Liao, H.T. |
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