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"young n g"

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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T09:17:37Z	Carrier escape mechanism dependence on barrier thickness and temperature in InGaN quantum well solar cells	Lang, J. R.; Young, N. G.; Farrell, R. M.; Wu, Y. -R.; Speck, J. S.; YUH-RENN WU

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