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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:08:33Z Characteristic fluctuation dependence on discrete dopant for 16nm SOI FinFETs at different temperature Li, Yiming; Hwang, Chih-Hong; Yu, Shao-Ming; Huang, Hsuan-Ming; Yeh, Ta-Ching; Cheng, Hui-Wen; Chen, Hung-Ming; Hwang, Jiunn-Ren; Yang, Fu-Liang
國立交通大學 2014-12-08T15:07:06Z Numerical simulation of static noise margin for a six-transistor static random access memory cell with 32nm fin-typed field effect transistors Li, Yiming; Hwang, Chih-Hong; Yu, Shao-Ming
國立交通大學 2014-12-08T15:06:44Z An optimal silicidation technique for electrostatic discharge protection sub-100 nm CMOS devices in VLSI circuit Yu, Shao-Ming; Lee, Jam-Wen; Li, Yiming
國立交通大學 2014-12-08T15:05:52Z Analytical solution of nonlinear Poisson equation for symmetric double-gate metal-oxide-semiconductor field effect transistors Lo, Shih-Ching; Li, Yiming; Yu, Shao-Ming
國立交通大學 2014-12-08T15:05:34Z Process-variation- and random-dopants-induced threshold voltage fluctuations in nanoscale CMOS and SOI devices Li, Yiming; Yu, Shao-Ming; Chen, Hung-Ming
國立交通大學 2014-12-08T15:05:19Z A coupled-simulation-and-optimization approach to nanodevice fabrication with minimization of electrical characteristics fluctuation Li, Yiming; Yu, Shao-Ming
國立成功大學 2012-07-02 探討儒家五常思想對後進者企業績效之影響–以台灣高科技產業為例 余紹銘; Yu, Shao-Ming

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