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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:23:37Z	Experimental Verification of RF Stress Effect on Cascode Class-E PA Performance and Reliability	Yuan, Jiann-Shiun; Yen, Hsuan-Der; Chen, Shuyu; Wang, Ruey-Lue; Huang, Guo-Wei; Juang, Ying-Zong; Tu, Chih-Ho; Yeh, Wen-Kuan; Ma, Jun
國立高雄大學	2011	NBTI reliability on high-k metal-gate SiGe transistor and circuit performances	Yuan, Jiann-Shiun; Yeh, Wen-Kuan; Chen, Shuyu; Hsu, Chia-Wei

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