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机构	日期	题名	作者
元智大學	2011-06	A Fast Gibbs Sampler Approach to Identify Tool Combinations for Semiconductor Manufacturing Yield Diagnosis	Yu-Chin Hsu; Chih-Min Fan; Yun-Pei Lu
元智大學	2009-08	A Bayesian Ranking Scheme for Supporting Cost-Effective Yield Diagnosis Services	范治民; Yun-Pei Lu
元智大學	2008-12	A Bayesian Framework to Integrate Knowledge-Based and Data-Driven Inference Tools for Reliable Yield Diagnosis	范治民; Yun-Pei Lu
元智大學	2008	整合統計分析與知識推論系統的貝氏架構設計 -以半導體良率分析為例	呂芸霈; Yun-Pei Lu

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