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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2007-04	High-temperature stable HfLaON p-MOSFETs with high-work-function Ir3Si gate	Wu, C. H.; Hung, B. F.; Chin, Albert; Wang, S. J.; Wang, X. P.; Li, M. F.; Zhu, C.; Yen, F. Y.; Hou, Y. T.; Jin, Y.; Tao, H. J.; Chen, S. C.; Liang, M. S.
國立成功大學	2006-02	High work function IrxSi gates on HfAlON p-MOSFETs	Wu, C. H.; Yu, D. S.; Chin, Albert; Wang, Shui-Jinn; Li, M. F.; Zhu, C.; Hung, B. E.; McAlister, S. P.

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