臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

	English \| 正體中文 \| 简体中文 \| 总笔数 :2817464
	造访人次 : 27766228 在线人数 : 635 教育部委托研究计画计画执行:国立台湾大学图书馆

搜寻范围

进阶搜寻

登入

管理

臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

关于TAIR
	计画说明

浏览
	典藏机构
	作者
	题名
	日期
	统计图表
	机构即时统计
	学术趋势

消息
	2019臺灣學術機構典藏研討會
	機構典藏系統RC7版本已發佈

著作权
	出版社及期刊政策查询
	TAIR著作权会议记录

相关连结
	機構典藏計畫網站
	ROAR
	OpenDOAR
	SHERPA
	OAIster
	JAIRO
	Ira
	DSPACE
	RWWR
	臺大學術典藏NTU Scholars

"chun hsi li"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序	依日期排序

显示项目 1-8 / 8 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目

机构	日期	题名	作者
國立臺灣海洋大學	2011-11	Applying Regional Level-Set Formulation to Postsawing Four-Element LED Wafer Inspection	Chun-Hsi Li; Chuan-Yu Chang; MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2011	運用計算智能於自動化切割後發光二極體晶圓缺陷檢測	Chun-Hsi Li; 李俊錫
國立臺灣海洋大學	2011	運用計算智能於自動化切割後發光二極體晶圓缺陷檢測	Chun-Hsi Li; 李俊錫
國立臺灣海洋大學	2011	Applying Regional Level-Set Formulation to Post-Sawing Four-element LED Wafer Inspection	Chun-Hsi Li; huan-Yu Chang; MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2009-12	Wafer Defect Inspection by Neural Analysis of Region Features	Chuan-Yu Chang; Chun-Hsi Li; Yung-Chi Chang; MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2009-03-31	Application of Two Hopfield Neural Networks for Automatic Four-Element LED Inspection	Chuan-Yu Chang;Chun-Hsi Li;Si-Yan Lin;MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2008-01	Learning vector quantization neural networks for LED wafer defect inspection	Chuan-Yu Chang; Chin-Huang Chang; Chun-Hsi Li; MuDer Jeng
國立臺灣海洋大學	2007	Inspection Results of the Learning Vector Quantization Neural Networks Based LED Wafer Defect Inspection System	Chuan-Yu Chang;Chin-Huang Chang;Chun-Hsi Li;MuDer Jeng

显示项目 1-8 / 8 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目