臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

	English \| 正體中文 \| 简体中文 \| Total items :0
	Visitors : 51485010 Online Users : 614 Project Commissioned by the Ministry of Education Project Executed by National Taiwan University Library

Scope

Adv. Search

Login

Administrator

臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

About TAIR
	About TAIR

Browse By
	Institution
	Author
	Title
	Date
	Statistics Chart
	Institution Facts
	Trend

News
	2019臺灣學術機構典藏研討會
	機構典藏系統RC7版本已發佈

Copyright
	Publisher & Journal Policy
	TAIR Copyright Conference Minutes

Related Links
	機構典藏計畫網站
	ROAR
	OpenDOAR
	SHERPA
	OAIster
	JAIRO
	Ira
	DSPACE
	RWWR
	臺大學術典藏NTU Scholars

"chung steve s"

Return to Browse by Author
Sorting by Title	Sort by Date

Showing items 71-80 of 136 (14 Page(s) Totally)
<< < 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 > >>
View [10|25|50] records per page

Institution	Date	Title	Author
國立交通大學	2014-12-13T10:39:34Z	先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:32Z	高介電閘氧化層深次微米MOS元件電漿製程傷害可靠性之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:22Z	次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:09Z	具有反向短通道效應N型MOS元件性能及可靠性的研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:03Z	快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:37:02Z	P通道快閃式記憶元件在長時間寫入抹除後由熱載子導致的可靠性問題研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:37:00Z	薄閘氧化層深次微米n-MOS元件的熱載子可靠性分析	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:36:37Z	先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:36:04Z	利用電荷幫浦分佈法研究深次微米N型MOS元件電漿製程傷害之可靠性	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:35:13Z	不同型摻雜材料浮動閘極快閃式記憶元件可靠性問題之研究	莊紹勳; Chung Steve S

Showing items 71-80 of 136 (14 Page(s) Totally)
<< < 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 > >>
View [10|25|50] records per page