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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-13T10:39:34Z	先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:32Z	高介電閘氧化層深次微米MOS元件電漿製程傷害可靠性之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:22Z	次微米MOS元件中反向短通道效應特性分析與模式	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:09Z	具有反向短通道效應N型MOS元件性能及可靠性的研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:39:03Z	快閃式記憶元件熱電子效應的可靠性分析	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:37:02Z	P通道快閃式記憶元件在長時間寫入抹除後由熱載子導致的可靠性問題研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:37:00Z	薄閘氧化層深次微米n-MOS元件的熱載子可靠性分析	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:36:37Z	先進奈米應力結構CMOS元件性能與可靠性變異之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:36:04Z	利用電荷幫浦分佈法研究深次微米N型MOS元件電漿製程傷害之可靠性	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:35:13Z	不同型摻雜材料浮動閘極快閃式記憶元件可靠性問題之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:34:54Z	超薄氮化閘極氧化層奈米CMOS元件可靠性的新方法研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:34:26Z	先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(II)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:34:13Z	先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(III)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:33:04Z	高介電氧化層奈米CMOS元件可靠性關鍵問題及界面量測技術研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:43Z	採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:32Z	高介電氧化層奈米CMOS元件可靠性關鍵問題及界面量測技術研究(II)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:15Z	張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:11Z	採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(II)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:03Z	高性能先進三維閘極CMOS應變元件設計---元件至電路的考量(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:29:57Z	採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(III)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:29:56Z	張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(II)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:29:48Z	高速操作及高資料保存特性SONOS型式快閃記憶體之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:29:10Z	混合基片奈米CMOS元件技術中各種應力效應對傳輸特性及可靠性影響的研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:28:38Z	高速操作及高資料保存特性SONOS型式快閃記憶體之研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-12T02:44:43Z	雙介電層低功耗電阻式記憶體之設計與導通機制探討	莊嘉暉; Chuang, Chia-Hui; 莊紹勳; Chung, Steve S.

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