臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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國立交通大學	2014-12-13T10:34:54Z	超薄氮化閘極氧化層奈米CMOS元件可靠性的新方法研究	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:34:26Z	先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(II)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:34:13Z	先進低電壓低功率及高效能快閃式記憶體之研究(III)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:33:04Z	高介電氧化層奈米CMOS元件可靠性關鍵問題及界面量測技術研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:43Z	採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:32Z	高介電氧化層奈米CMOS元件可靠性關鍵問題及界面量測技術研究(II)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:15Z	張力型矽鍺奈米CMOS元件通道工程及可靠性關鍵問題研究(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:11Z	採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(II)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:31:03Z	高性能先進三維閘極CMOS應變元件設計---元件至電路的考量(I)	莊紹勳; Chung Steve S
國立交通大學	2014-12-13T10:29:57Z	採用高層次操作模式及閘氧化層的高性能及可靠性SONOS快閃記憶體之研究(III)	莊紹勳; Chung Steve S

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