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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2019-04-02T06:04:37Z Experimental Observation on the Random Dopant Fluctuation of Small Scale Trigate CMOS Devices Chung, Steve S.
國立交通大學 2019-04-02T06:04:27Z Resistive Switching Non-volatile Memory Feasible for 28nm and Beyond Embedded Logic CMOS Technology Chung, Steve S.
國立交通大學 2019-04-02T06:04:26Z A Novel ReWritable One-Time-Programming OTP (RW-OTP) Realized by Dielectric-fuse RRAM Devices Featuring Ultra-High Reliable Retention and Good Endurance for Embedded Applications Cheng, H. W.; Hsieh, E. R.; Huang, Z. H.; Chuang, C. H.; Chen, C. H.; Li, F. L.; Lo, Y. M.; Liu, C. H.; Chung, Steve S.
國立交通大學 2019-04-02T06:00:32Z The investigation of charge loss mechanism in a two-bit wrapped-gate nitride storage nonvolatile memory Ho, Y. H.; Chung, Steve S.; Chen, H. H.
國立交通大學 2019-04-02T05:58:37Z An Experimental Approach to Characterizing the Channel Local Temperature Induced by Self-Heating Effect in FinFET Hsieh, E. Ray; Jiang, Meng-Ru; Lin, Jian-Li; Chung, Steve S.; Chen, Tse Pu; Huang, Shih An; Chen, Tai-Ju; Cheng, Osbert
國立交通大學 2018-08-21T05:57:09Z The Issues on the Power Consumption of Trigate FinFET: The Design and Manufacturing Guidelines Chung, Steve S.; Hsieh, E. R.
國立交通大學 2018-08-21T05:57:09Z The Impact of TiN Barrier on the NBTI in an Advanced High-k Metal-gate p-channel MOSFET Huang, D. -C.; Hsieh, E. Ray; Gong, J.; Huang, C. -F.; Chung, Steve S.
國立交通大學 2018-08-21T05:57:00Z The Guideline on Designing Face-tunneling FET for Large-scale-device Applications in IoT Hsieh, E. R.; Lee, J. W.; Lee, M. H.; Chung, Steve S.
國立交通大學 2018-08-21T05:56:52Z A Novel Design of P-N Staggered Face-tunneling TFET Targeting for Low Power and Appropriate Performance Applications Hsieh, E. R.; Fan, Y. C.; Chang, K. Y.; Liu, C. H.; Chien, C. H.; Chung, Steve S.
國立交通大學 2018-08-21T05:56:52Z Geometric Variation: A Novel Approach to Examine the Surface Roughness and the Line Roughness Effects in Trigate FinFETs Hsieh, E. R.; Fan, Y. C.; Liu, C. H.; Chung, Steve S.; Huang, R. M.; Tsai, C. T.; Yew, T. R.

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