English  |  正體中文  |  简体中文  |  總筆數 :2827024  
造訪人次 :  32075766    線上人數 :  1434
教育部委託研究計畫      計畫執行:國立臺灣大學圖書館
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
關於TAIR

瀏覽

消息

著作權

相關連結

"d h lung"的相關文件

回到依作者瀏覽
依題名排序 依日期排序

顯示項目 1-12 / 12 (共1頁)
1 
每頁顯示[10|25|50]項目

機構 日期 題名 作者
臺大學術典藏 2018-09-10T15:00:18Z Parasitic BJT versus DIBL: Floating-Body-Related Subthreshold Characteristics of SOI NMOS Device D. H. Lung;S. K. Hu;J. B. Kuo;D. Chen; D. H. Lung; S. K. Hu; J. B. Kuo; D. Chen; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T15:00:18Z Parasitic BJT versus DIBL: Floating-Body-Related Subthreshold Characteristics of SOI NMOS Device D. H. Lung;S. K. Hu;J. B. Kuo;D. Chen; D. H. Lung; S. K. Hu; J. B. Kuo; D. Chen; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T15:00:17Z Subthreshold Behavior of the SOI NMOS Device Consdiering BJT and DIBL Effects D. H. Lung;J. B. Kuo; D. H. Lung; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T15:00:17Z Subthreshold Behavior of the SOI NMOS Device Consdiering BJT and DIBL Effects D. H. Lung;J. B. Kuo; D. H. Lung; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T15:00:17Z Back-Gate-Baias Induced Floating-Body-Related Subthreshold Characteristics of SOI NMOS Device S. K. Hu;D. H. Lung;J. B. Kuo;D. Chen; S. K. Hu; D. H. Lung; J. B. Kuo; D. Chen; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T15:00:17Z Back-Gate-Baias Induced Floating-Body-Related Subthreshold Characteristics of SOI NMOS Device S. K. Hu;D. H. Lung;J. B. Kuo;D. Chen; S. K. Hu; D. H. Lung; J. B. Kuo; D. Chen; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T09:50:25Z Turn-off Transient Behavior of PD SOI NMOS Device Considering the Back-Gate Bias Effect D. H. Lung; J. B. Kuo; D. Chen; JAMES-B KUO; D. H. Lung;J. B. Kuo;D. Chen
臺大學術典藏 2018-09-10T09:50:25Z Turn-off Transient Behavior of PD SOI NMOS Device Considering the Back-Gate Bias Effect D. H. Lung; J. B. Kuo; D. Chen; JAMES-B KUO; D. H. Lung;J. B. Kuo;D. Chen
臺大學術典藏 2018-09-10T09:50:25Z Back-Gate Bias Effect of PD SOI NMOS Device Considering BJT D. H. Lung;J. B. Kuo; D. H. Lung; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T09:50:25Z Back-Gate Bias Effect of PD SOI NMOS Device Considering BJT D. H. Lung;J. B. Kuo; D. H. Lung; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2013-12 Turn-on Transient Behavior of PD SOI NMOS Device Considering the Back-Gate Bias Effect D. H. Lung;J. B. Kuo;D. Chen; D. H. Lung; J. B. Kuo; D. Chen; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2013-12 Turn-on Transient Behavior of PD SOI NMOS Device Considering the Back-Gate Bias Effect D. H. Lung;J. B. Kuo;D. Chen; D. H. Lung; J. B. Kuo; D. Chen; JAMES-B KUO

顯示項目 1-12 / 12 (共1頁)
1 
每頁顯示[10|25|50]項目