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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2018-08-21T05:56:47Z Dynamic ink-jet printing analysis system with addressable waveform trimming Huang, Chieh-Yi; Shang, Kuo-Chiang; Wu, Kuo-Hua; Lee, Jeng-Han; Liu, Tsu-Min; Cheng, Kevin; Wu, Bing-Fei
國立交通大學 2018-08-21T05:56:33Z Surface Potential and Electric Field Mapping of p-well/n-well Junction by Secondary Electron Potential Contrast and in-situ Nanoprobe biasing Lee, Jeng-Han; Liu, Po-Tsun; Wang, M. H.; Lin, Y. T.; Huan, Y. S.; Su, David
國立交通大學 2014-12-12T01:25:21Z 二次電子電壓對比應用於摻雜分佈與缺陷定位之研究 李正漢; Lee, Jeng-Han; 劉柏村; Liu, Po-Tsun
國立交通大學 2014-12-08T15:31:02Z Profiling p(+)/n-Well Junction by Nanoprobing and Secondary Electron Potential Contrast Liu, Po-Tsun; Lee, Jeng-Han
國立交通大學 2014-12-08T15:26:33Z Inspection of the Current-Mirror Mismatch by Secondary Electron Potential Contrast With In Situ Nanoprobe Biasing Liu, Po-Tsun; Lee, Jeng-Han
國立交通大學 2014-12-08T15:23:06Z Surface potential mapping of p(+)/n-well junction by secondary electron potential contrast with in situ nano-probe biasing Lee, Jeng-Han; Liu, Po-Tsun
國立交通大學 2014-12-08T15:08:42Z Application of secondary electron potential contrast on junction leakage isolation Liu, Po-Tsun; Lee, Jeng-Han; Huan, Y. S.; Su, David
國立臺灣大學 2008 Uniform Square Polycrystalline Silicon Fabricated by Employing Periodic Metallic Pads and SiON Absorption Layer for Thin Film Transistors Yang, Po-Chuan; Hsueh, Chun-Yuan; Yang, Chieh-Hung; Lee, Jeng-Han; Lin, Hui-Wen; Chang, Hsu-Yu; Chang, Chi-Yang; Lee, Si-Chen

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