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| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
Testable design for electrical testing of open defects at interconnects in 3D ICs
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Hashizume, M.;Konishi, T.;Yotsuyanag, H.;Lu, S.-K. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
Error-tolerance evaluation and design techniques for motion estimation computing arrays
|
Lu, S.-K.;Chen, M.-C.;Chen, Y.-C. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
Efficient test and repair architectures for 3D TSV-based random access memories
|
Lu, S.-K.;Lu, U.-C.;Pong, S.-W.;Cheng, H.-C. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
Reduction method of number of electromagnetic simulation times for estimating output voltage at hard open TSV in 3D IC
|
Haraguchi, E.;Hashizume, M.;Manabe, K.;Yotsuyanagi, H.;Tada, T.;Lu, S.-K.;Roth, Z. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
Built-in IDDT appearance time sensor for detecting open faults in 3D IC
|
Suenaga, S.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Tada, T.;Lu, S.-K. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
Fault scrambling techniques for yield enhancement of embedded memories
|
Lu, S.-K.;Jheng, H.-C.;Hashizume, M.;Huang, J.-L.;Ning, P. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
DFT for supply current testing to detect open defects at interconnects in 3D ICs
|
Suenaga, S.;Hashizume, M.;Yotsuyanagi, H.;Lu, S.-K.;Roth, Z. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
An efficient test and repair flow for yield enhancement of one-time-programming NROM-based ROMs
|
Li, T.-L.;Hashizume, M.;Lu, S.-K. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
Synergistic reliability and yield enhancement techniques for embedded SRAMs
|
Lu, S.-K.;Huang, H.-H.;Huang, J.-L.;Ning, P. |
| 國立臺灣科技大學 |
2012 |
Efficient built-in self-repair techniques for multiple repairable embedded RAMs
|
Lu, S.-K.;Wang, Z.-Y.;Tsai, Y.-M.;Chen, J.-L. |
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