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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2001-11-01	Electrical properties of TaxNy films by implementing OES in the sputtering system	Lu, Yang-Ming; Weng, R. J.; Hwang, Weng-Sing; Yang, Y. S.
國立成功大學	2000-12-01	Qualitative study of beta silicon carbide residual stress by Raman spectroscopy	Lu, Yang-Ming; Leu, Ing-Chi
國立成功大學	2000-02-21	Microstructural study of residual stress in chemically vapor deposited beta-SiC	Lu, Yang-Ming; Leu, Ing-Chi

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