臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

关于TAIR
	计画说明

"maikap s"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序	依日期排序

显示项目 36-37 / 37 (共4页)
<< < 1 2 3 4
每页显示[10|25|50]项目

机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	2004	Evidence of Si/SiGe heterojunction roughness scattering	Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.
臺大學術典藏	2004	Evidence of Si/SiGe heterojunction roughness scattering	Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.Liucw; Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.; LiuCW

显示项目 36-37 / 37 (共4页)
<< < 1 2 3 4
每页显示[10|25|50]项目

	English \| 正體中文 \| 简体中文 \| 总笔数 :0
	造访人次 : 51880193 在线人数 : 869 教育部委托研究计画计画执行:国立台湾大学图书馆