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機構	日期	題名	作者
國立臺灣大學	2004	Evidence of Si/SiGe heterojunction roughness scattering	Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.
臺大學術典藏	2004	Evidence of Si/SiGe heterojunction roughness scattering	Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.Liucw; Liu, C. W.; Lee, M. H.; Lee, Y. C.; Chen, P. S.; Yu, C.-Y.; Wei, J.-Y.; Maikap, S.; LiuCW

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