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机构	日期	题名	作者
義守大學	2008-12	Investigation on Board-Level CDM ESD Issue in IC Products	Ming-Dou Ker;Yuan-Wen Hsiao
義守大學	2008-11	Investigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology	Ming-Dou Ker;Tai-Hsiang Lai
義守大學	2008-11	Investigation and Design of On-Chip Power-Rail ESD Clamp Circuits Without Suffering Latchup-Like Failure During System-Level ESD Test	Ming-Dou Ker;Cheng-Cheng Yen

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