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机构 日期 题名 作者
臺大學術典藏 2007 Evaluating the business value of RFID: Evidence from five case studies Tzeng, Shiou-Fen; Chen, Wun-Hwa; Pai, Fan-Yun; Tzeng, Shiou-Fen; Chen, Wun-Hwa; Pai, Fan-Yun
國立臺灣大學 2006-02 A WIP-based Exception Management Model for Integrated Circuit Back-end Production Processes Guo, Ruey-Shan; Chiang, David M.; Pai, Fan-Yun
臺大學術典藏 2006-02 A WIP-based Exception Management Model for Integrated Circuit Back-end Production Processes Guo, Ruey-Shan; Chiang, David M.; Pai, Fan-Yun; Guo, Ruey-Shan; Chiang, David M.; Pai, Fan-Yun

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