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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:15:41Z Precision measures for processes with multiple manufacturing lines Pearn, W. L.; Chang, C. S.
國立交通大學 2014-12-08T15:15:33Z Bayesian approach for measuring EEPROM process capability based on the one-sided indices C-PU and C-PL Wu, Chien-Wei; Pearn, W. L.
國立交通大學 2014-12-08T15:15:31Z One-sided process capability assessment in the presence of measurement errors Pearn, W. L.; Liao, Mou-Yuan
國立交通大學 2014-12-08T15:15:29Z Measuring production yield for processes with multiple quality characteristics Pearn, W. L.; Wang, F. K.; Yen, C. H.
國立交通大學 2014-12-08T15:15:20Z Measuring process performance based on expected loss with asymmetric tolerances Pearn, W. L.; Chang, Y. C.; Wu, Chien-Wei
國立交通大學 2014-12-08T15:15:10Z Accuracy analysis of the percentile method for estimating non normal manufacturing quality Wu, Chien-Wei; Pearn, W. L.; Chang, C. S.; Chen, H. C.
國立交通大學 2014-12-08T15:15:01Z On the sampling distributions of the estimated process loss indices with asymmetric tolerances Chang, Y. C.; Pearn, W. L.; Wu, Chien-Wei
國立交通大學 2014-12-08T15:15:01Z Multivariate capability indices: Distributional and inferential properties Pearn, W. L.; Wang, F. K.; Yen, C. H.
國立交通大學 2014-12-08T15:15:01Z Optimal management for a finite M/M/R queueing system with two arrival modes Wang, Kuo-Hsiung; Ke, Jyh-Bin; Pearn, W. L.
國立交通大學 2014-12-08T15:15:01Z A comparison of two methods for transforming non-normal manufacturing data Chung, S. H.; Pearn, W. L.; Yang, Y. S.

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