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機構 日期 題名 作者
淡江大學 2021-11-16 A Scan-Based Lower-Power Testing Architecture for Modern Circuits Rau, Jiann-Chyi;Wang, Jia-Xiang
淡江大學 2018-04-13 Low-Capture-Power X-filling Method Base On Architecture Using Selection Expansion Chung, Yu-Ting;Rau, Jiann-Chyi
淡江大學 2013-06 Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect Chia-Yuan Chang; Kuan-Yu Liao; Sheng-Chang Hsu; Li, J.C.; Rau, Jiann-Chyi
淡江大學 2012-11 Optimal Unknown Bit Filtering for Test Response Masking Weng, Ding-ke; Rau, Jiann-Chyi; Lin , Cheng-han
淡江大學 2012-11 An Efficient Test Data Compression Scheme Using Selection Expansion Rau, Jiann-chyi
淡江大學 2012-11 Multimode ATPG for DVFS Designs Bai, B.; Lin, J.; Rau, Jiann-chyi
淡江大學 2012-10-18 Thermal-Aware Test Schedule and TAM Co-Optimization for Three-Dimensional IC Shih, Chi-Jih; Hsu, Chih-Yao; Kuo, Chun-Yi; Li, James; Rau, Jiann-Chyi; Krishnendu Chakrabarty
淡江大學 2012-06 Test Slice Difference Technique for Low-Transition Test Data Compression Rau, Jiann-Chyi; Wu, Po-Han; Li, Wei-Lin
淡江大學 2011-06 Power-aware compression scheme for multiple scan-chain Rau, Jiann-Chyi; Wu, Po-Han
淡江大學 2011-03 An Efficient Algorithm to Selectively Gate Scan Cells for Capture Power Reduction Rau, Jiann-Chyi; Wu, Chung-Lin; Wu, Po-Han

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