臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2018-10-11	NONVOLATILE MEMORY AND ITS OPERATION METHOD THEREOF	E-Ray HSIEH; Steve S. CHUNG
國立交通大學	2017-08-03	STRUCTURE AND FORMATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE STRUCTURE	Yi-Hsien LIN; E-Ray HSIEH; Steve S. CHUNG
國立交通大學	2017-02-02	DIELECTRIC FUSE MEMORY CIRCUIT AND OPERATION METHOD THEREOF	Zhi-Hong HUANG; E-Ray HSIEH; Steve S. CHUNG
國立交通大學	2014-12-12T02:28:17Z	深次微米與奈米金氧半元件氧化層界面與製程導致元件可靠性的探討	陳尚志; Shang-Jr Chen; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:28:05Z	利用汲極端包覆性植入結構改善快閃記憶體的性能與可靠性之研究	林新富; Lin Hsin-Fu; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:28:04Z	利用閘二極體量測法評估雙閘極金氧半電晶體的熱載子和負偏壓溫度可靠性	羅大剛; Da-Kang Lo; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:25:37Z	使用多重氧化層技術成長之雙閘極金氧半元件偏壓與溫度效應之可靠性研究	林清淳; Ching-Chung Lin; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:25:37Z	利用汲極崩潰熱電子注入操作的快閃式記憶體元件性能及可靠性研究	陳映仁; Yin Jen Chen; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:25:36Z	不同浮動閘極材料P通道快閃記憶體性能與可靠性之改進	蔡皓偉; Hao-Wei Tsai; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T02:24:32Z	高介電氧化層MOSFET元件之低漏電電荷幫浦量測技術	朱益輝; Yi - Huei Ju; 莊紹勳; Steve S. Chung

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