臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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國立交通大學	2014-12-12T01:32:05Z	先進互補式金氧半元件的閘極層厚度1nm範圍下之低漏電電荷幫浦量測技術	馮信榮; Feng Hsin Jung; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:51Z	以鉿為基底之高介電常數閘極介電層之N通道金氧半電晶體可靠度探討	曾友良; Yu-Liang Tseng; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:49Z	探討高閘極介電層N通道金氧半電晶體的新穎閘極電流隨機電報量測法	張家銘; Chia-Ming Chang; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:48Z	二位元SONOS快閃式記憶體之物理機制與可靠性探討	郭建鴻; Jian-Hung Kuo; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:44Z	奈米應變矽元件載子傳輸模型分析與其可靠度相關性探討	張文彥; Derrick W. Chang; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:41Z	一種改良的介面缺陷之橫向剖面分析應用於奈米級應變矽CMOS元件之可靠度探討	謝易叡; E Ray Hsieh; 莊紹勳; Steve S. Chung
國立交通大學	2014-12-12T01:13:04Z	低電壓且高速操作的P通道快閃式記憶體元件性能及可靠性研究	黃耀賢; Yao-Hsien Huang; 莊紹勳; Steve S. Chung

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