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機構	日期	題名	作者
中國文化大學	2010-12	Control of Interface Traps in HfO(2) Gate Dielectric on Silicon	Tan, SY (Tan, S. Y.)
中國文化大學	2010-11	Dopant enhanced in nickel silicide formation for high-k dielectric applications	Tan, SY (Tan, S. Y.)
中國文化大學	2009	Investigation of the Interfaces in Ni-FUSI/Hf-Based/Si and Ni-FUSI/SiO(2)/Si Stacks by Physical and Electrical Characterization Techniques	Tan, SY (Tan, S. Y.)

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