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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:28:41Z	Failure Analysis on Gate-Driven ESD Clamp Circuit after TLP Stresses of Different Voltage Steps in a 16-V CMOS Process	Dai, Chia-Tsen; Chiu, Po-Yen; Ker, Ming-Dou; Tsai, Fu-Yi; Peng, Yan-Hua; Tsai, Chia-Ku
國立交通大學	2014-12-08T15:09:48Z	Board-Level ESD of Driver ICs on LCD Panel	Tseng, Jen-Chou; Hsu, Chung-Ti; Tsai, Chia-Ku; Chen, Shu-Chuan; Ker, Ming-Dou

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