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機構	日期	題名	作者
國立成功大學	2003-10-16	Hf-doped and NH3-nitrided high-K gate dielectric thin film with least drain current degradation and flatband voltage shift	Yang, Chih-Wei; Fang, Yean-Kuen; Lin, C. S.; Tsair, Y. S.; Chen, Shi-Ming; Wang, W. D.; Wang, M. F.; Cheng, Juing-Yi; Chen, C. H.; Yao, Liang-Gi; Chen, S. C.; Liang, M. S.

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