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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:46:16Z Antireflective coating for ITO films deposited on glass substrate Chiou, BS; Tsai, JH
國立交通大學 2014-12-08T15:45:46Z Barrier layer effect of titanium-tungsten on the electromigration in sputtered copper films on polyimide Wang, HW; Chiou, BS
國立交通大學 2014-12-08T15:45:14Z The effect of substrate surface roughness on the wettability of Sn-Bi solders Chen, YY; Duh, JG; Chiou, BS
國立交通大學 2014-12-08T15:44:43Z Thermal cycling test in Sn-Bi and Sn-Bi-Cu solder joints Miao, HW; Duh, JG; Chiou, BS
國立交通大學 2014-12-08T15:44:43Z Analysis of the dielectric characteristics for polycrystalline Ba(0.65)Sr(0.35)TiO(3) (I)-frequency dependence in the paraelectric state Liou, JW; Chiou, BS
國立交通大學 2014-12-08T15:44:43Z Analysis of the dielectric characteristics for polycrystalline Ba0.65Sr0.35TiO3 (II) - d.c. field dependence with a modified bias equation Liou, JW; Chiou, BS
國立交通大學 2014-12-08T15:44:33Z Effect of aluminum seed layer on the crystallographic texture and electromigration resistance of physical vapor deposited copper interconnect Chin, YL; Chiou, BS; Wu, WF
國立交通大學 2014-12-08T15:44:24Z The effect of polyimide passivation on the electromigration of Cu multilayer interconnections Jiang, JS; Chiou, BS
國立交通大學 2014-12-08T15:44:11Z The influence of washing and calcination condition on urea-derived ceria-yttria-doped tetragonal zirconia powders Lin, JD; Duh, JG; Chiou, BS
國立交通大學 2014-12-08T15:43:53Z Wettability of electroless Ni in the under bump metallurgy with lead free solder Young, BL; Duh, JG; Chiou, BS

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