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國立交通大學 2020-05-05T00:01:29Z Extremely rapid grain growth in scallop-type Cu6Sn5 during solid-liquid interdiffusion reactions in micro-bump solder joints Chen, Chih; Tu, K. N.; Gusak, A. M.
國立交通大學 2019-10-05T00:08:46Z A unified model of mean-time-to-failure for electromigration, thermomigration, and stress-migration based on entropy production Tu, K. N.; Gusak, A. M.
國立臺灣大學 2005-06 Electromigration-induced grain rotation in anisotropic conducting beta-tin Wu, A. T.; Gusak, A. M.; Tu, K. N.; Kao, and C. R.

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