|
English
|
正體中文
|
简体中文
|
總筆數 :2856655
|
|
造訪人次 :
53565851
線上人數 :
1088
教育部委託研究計畫 計畫執行:國立臺灣大學圖書館
|
|
|
"hsieh tong yu"的相關文件
顯示項目 1-9 / 9 (共1頁)
1
每頁顯示[10|25|50]項目
| 國立成功大學 |
2014-12 |
Efficient LFSR Reseeding Based on Internal-Response Feedback
|
Lien, Wei-Cheng; Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Chakrabarty, Krishnendu |
| 國立成功大學 |
2013-08 |
An Efficient On-Chip Test Generation Scheme Based on Programmable and Multiple Twisted-Ring Counters
|
Lien, Wei-Cheng; Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Ang, Wee-Lung |
| 國立成功大學 |
2013-01 |
Counter-Based Output Selection for Test Response Compaction
|
Lien, Wei-Cheng; Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Chakrabarty, Krishnendu; Wu, Yu-Hua |
| 國立成功大學 |
2012-11-22 |
A Test-Per-Clock LFSR Reseeding Algorithm for Concurrent Reduction on Test Sequence Length and Test Data Volume
|
Lien, Wei-Cheng; Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu |
| 國立成功大學 |
2012-05 |
Efficient Overdetection Elimination of Acceptable Faults for Yield Improvement
|
Lee, Kuen-Jong; Hsieh, Tong-Yu; Breuer, Melvin A. |
| 國立成功大學 |
2011-10 |
Test Response Compaction via Output Bit Selection
|
Lee, Kuen-Jong; Lien, Wei-Cheng; Hsieh, Tong-Yu |
| 國立成功大學 |
2011-06 |
An Error-Tolerance-Based Test Methodology to Support Product Grading for Yield Enhancement
|
Hsieh, Tong-Yu; Lee, Kuen-Jong; Breuer, Melvin A. |
| 國立成功大學 |
2009-07-20 |
可有效提升良率之容誤技術理論與應用
|
謝東佑; Hsieh, Tong-Yu |
| 國立成功大學 |
2008-03 |
An error rate based test methodology to support error-tolerance
|
Hsieh, Tong-Yu; Lee, Kuen-Jong; Breuer, Melvin A. |
顯示項目 1-9 / 9 (共1頁)
1
每頁顯示[10|25|50]項目
|
