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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2008-11-21	Effect of hot carrier stress on RF reliability of 40 nm PMOSFETs with and without SiGe source/drain	Tang, Mao-Chyuan; Fang, Yean-Kuen; Wei, Sun-Chin; Chen, David C.; Yeh, Chune-Sin; Huang-Lu, Shiang

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