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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:03:13Z THE ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF POLYSILICON OXIDE GROWN IN PURE N2O LAI, CS; LEI, TF; LEE, CL
國立交通大學 2014-12-08T15:03:10Z A NOVEL PLANARIZATION OF TRENCH ISOLATION USING POLYSILICON REFILL AND ETCHBACK OF CHEMICAL-MECHANICAL POLISH CHENG, JY; LEI, TF; CHAO, TS
國立交通大學 2014-12-08T15:03:07Z HIGH BREAKDOWN VOLTAGE SCHOTTKY-BARRIER DIODE USING P(+)-POLYCRYSTALLINE SILICON DIFFUSED GUARD RING LIOU, BW; LEE, CL; LEI, TF
國立交通大學 2014-12-08T15:03:06Z POST-POLYSILICON GATE-PROCESS-INDUCED DEGRADATION ON THIN GATE OXIDE LAI, CS; LEI, TF; LEE, CL; CHAO, TS
國立交通大學 2014-12-08T15:03:04Z PTGE OHMIC CONTACT TO N-TYPE INP HUANG, WC; LEI, TF; LEE, CL
國立交通大學 2014-12-08T15:03:03Z LOW-TEMPERATURE GROWTH OF SILICON-BORON LAYER AS SOLID DIFFUSION SOURCE FOR POLYSILICON CONTACTED P(+)-N SHALLOW JUNCTION LEI, TF; CHEN, TP; LIN, HC; CHANG, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:03:03Z CHARACTERISTICS OF TOP-GATE THIN-FILM TRANSISTORS FABRICATED ON NITROGEN-IMPLANTED POLYSILICON FILMS YANG, CK; LEI, TF; LEE, CL
國立交通大學 2014-12-08T15:03:01Z CHARACTERISTICS OF POLYCRYSTALLINE FILMS GROWN BY ULTRAHIGH-VACUUM CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION SYSTEM LIN, HY; LEI, TF; LIN, HC; CHANG, CY; TWU, RC; DENG, RC; LIN, JD
國立交通大學 2014-12-08T15:03:00Z RADIATION EFFECTS ON N-CHANNEL POLYCRYSTALLINE SILICON THIN-FILM TRANSISTORS YANG, CK; LEE, CL; LEI, TF; CHERN, HN
國立交通大學 2014-12-08T15:02:53Z Characterization of thin textured tunnel oxide prepared by thermal oxidation of thin polysilicon film on silicon Wu, SL; Chiao, DM; Lee, CL; Lei, TF

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