| 國立臺灣大學 |
1998-12 |
A Global Parallelization Scheduling Algorithm for Automated Synthesis of Digital Systems
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Chen, T.; 林呈祥; Chen, T.; Lin, Chen-Shang |
| 淡江大學 |
1995-11-01 |
Test set compaction for combinational circuits
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張昭憲; Chang, Jau-shien; Lin, Chen-shang |
| 國立臺灣大學 |
1995-11 |
Fast fault simulation for BIST applications
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Kung, Chen-Pin; Huang, Chun-Jieh; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1995-09 |
OBDD variable ordering by interleaving compacted clusters
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Yeh, Fu-Min; Lin, Chen-Shang |
| 淡江大學 |
1995-01-01 |
Test time reduction for scan-designed circuits by sliding compatibility
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張昭憲; Chang, Jau-shien; Lin, Chen-shang |
| 淡江大學 |
1994-11-16 |
Test time reduction for scan-designed circuits by sliding compatibility
|
張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang |
| 國立臺灣大學 |
1994-11 |
Test time reduction for scan-designed circuits by sliding compatibility
|
Chang, Jau-Shien; Lin, Chen-Shang |
| 淡江大學 |
1994-10-02 |
A test clock reduction method for scan-designed circuits
|
張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang |
| 國立臺灣大學 |
1994-10 |
A test clock reduction method for scan-designed circuits
|
Chang, Jau-Shien; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994-10 |
A Test Clock Reduction Method for Scan-Designed Circuits
|
Chang, J. S.; 林呈祥; Chang, J. S.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994-03 |
Direct synthesis of hazard-free asynchronous circuits from STGs based on lock relation and MG-decomposition approach
|
Lin, Kuan-Jen; Kuo, Jih-Wen; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994-02 |
Direct Synthesis of Hazard-Free Asynchronous Circuits from STGs Based on Lock Relation and MG-Decomposition Approach
|
Lin, K. J.; Kuo, J. W.; 林呈祥; Lin, K. J.; Kuo, J. W.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994 |
超大型積體電路電腦輔助設計系統I-4:非同步電路
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林呈祥; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994 |
HyHOPE:a Fast Fault Simulator with Efficient Simulation of Hypertrophic Faults
|
Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994 |
Optimized Synthesis of Hazard-Free Asynchronous Circuits
|
Lin, K. J.; Kuo, J. W.; 林呈祥; Lin, K. J.; Kuo, J. W.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994 |
Reducing Hypertrophic Fault Events in Sequential Fault Simulation
|
Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994 |
Test Time Reduction for Scan-Designed Circuits by Sliding Compatibility
|
Chang, J. S.; 林呈祥; Chang, J. S.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1994 |
在MCM環境下之測試樣本產生系統
|
林少傑; 林呈祥; 林少傑; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993-08 |
Automatic Synthesis of Hazard Free Asynchronous Circuits Based on Transitive Lock Relation
|
Lin, K.; Kuo, J.; 林呈祥; Lin, K.; Kuo, J.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993-08 |
Building BDDs with Ordering-Reshuffle Strategy
|
Yeh, F.; 林呈祥; Yeh, F.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993-02 |
Test time reduction in scan designed circuits
|
Lai, Wen-Joung; Kung, Chen-Pin; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
多晶片模組設計自動化與測試系統總計劃(I)
|
林呈祥; 郭斯彥; Lin, Chen-Shang; Kuo, Sy-Yen |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
自動設計驗證及測試樣本產生
|
林呈祥; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
非同步電路設計合成之研究(II)
|
龐台銘; 林呈祥; Parng, Tai-Ming; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
On the OBDD-Representation of General Boolean Functions
|
Liaw, H.; 林呈祥; Liaw, H.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
Test Time Reduction in Scan Designed Circuits
|
Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lai, W.; Kung, C.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
超大型積體電路電腦輔助設計系統I-4:非同步電路
|
林呈祥; Lin, Chen-Shang |
| 淡江大學 |
1992-11-26 |
Test set compaction for combinational circuits
|
張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-11 |
On the verification of state-coding in STGs
|
Lin, Kuan- Jen; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-11 |
Test set compaction for combinational circuits
|
Chang, Jau-Shien; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-11 |
Test Reduction in Scan-Designed Circuits
|
Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lai, W.; Kung, C.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-11 |
Test Set Compaction for Combinational Circuits
|
Chang, J.; 林呈祥; Chang, J.; Lin, Chen-Shang |
| 淡江大學 |
1992-06-01 |
On the OBDD-representation of general Boolean functions
|
廖賀田; Liaw, Heh-tyan; Lin, Chen-shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-03 |
A realization algorithm of asynchronous circuits from STG
|
Lin, Kuan-Jen; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-03 |
Parallel sequence fault simulation for synchronous sequential circuits
|
Kung, Chen-Pin; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-03 |
A Realization Algorithm for Asynchronous Circuits From STG
|
Lin, K.; 林呈祥; Lin, K.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992 |
自動高階合成系統(II)
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林呈祥; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992 |
Identifiability of an Imbedding Unknown Subnetwork
|
林呈祥; Liu, R.; Lin, Chen-Shang; Liu, R. |
| 國立臺灣大學 |
1992 |
On the Verification of State Coding in STGs
|
Lin, K.; 林呈祥; Lin, K.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992 |
智慧型超大型積體電路設計自動化系統(V)
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闕志達; 龐台銘; 馮武雄; 楊武純; 林呈祥; 賴飛羆(Lai, Fei-Pei); 陳良基(Chen, Liang-Gee); 陳少傑(Chen, Sao-Jie); 郭斯彥(Kuo, Sy-Yen); Chiueh, Tzi-Dar; Parng, Tai-Ming; 馮武雄; Yang, Wu-Chun; Lin, Chen-Shang; 賴飛羆(Lai, Fei-Pei); 陳良基(Chen, Liang-Gee); 陳少傑(Chen, Sao-Jie); 郭斯彥(Kuo, Sy-Yen) |
| 淡江大學 |
1991-12 |
Boolean resubstitution with ATPG
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張昭憲; Chang, Jau-shien ; 林呈祥; Lin, Chen-shang |
| 國立臺灣大學 |
1991-12 |
Bollean Resubstition with ATPG
|
Chang, J.; 林呈祥; Chang, J.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1991-09 |
Automatic Synthesis of Asynchronous Circuits
|
Lin, K.; 林呈祥; Lin, K.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1991-05 |
Parallel sequence fault simulation for synchronous sequential circuits
|
Kung, Chen-Pin; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1991 |
智慧型超大型積體電路設計自動化系統
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林呈祥; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1991 |
Parallel Sequence Fault Simulation for Synchronous Sequential Circuits
|
Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1991 |
總計畫:智慧型超大型積體電路設計自動化系統 分項計畫:自動高階合成系統
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林呈祥; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1990-12 |
FIPOC:a Finite State Machine Synthesizer
|
Wang, J. P.; 林呈祥; Wang, J. P.; Lin, Chen-Shang |
| 淡江大學 |
1990-11 |
Efficient automatic diagnosis of digital circuits
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廖賀田; Liaw, Heh-tyan ; Tsaih, Jia-horng ; Lin, Chen-shang |
| 國立臺灣大學 |
1990-07 |
Topological Testability Conditions for Analog Fault Daignosis
|
林呈祥; Lin, Chen-Shang |