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"liu chuan pu"的相关文件
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| 國立成功大學 |
2001-11 |
Characterization and reliability of low dielectric constant fluorosilicate glass and silicon rich oxide process for deep sub-micron device application
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Cheng, Y. L.; Wang, Ying-Lang; Liu, C. W.; Wu, Y. L.; Lo, Kuang-Yao; Liu, Chuan-Pu; Lan, J. K. |
| 國立成功大學 |
2001-11 |
Integration of MOCVD titanium nitride with collimated titanium and ion metal plasma titanium for 0.18-mu m logic process
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Lan, J. K.; Wang, Ying-Lang; Lo, Kuang-Yao; Liu, Chuan-Pu; Liu, C. W.; Wang, JK; Cheng, Y. L.; Chau, C. G. |
| 國立成功大學 |
2001-04 |
High-angle annular dark-field imaging of self-assembled Ge islands on Si(001)
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Liu, Chuan-Pu; Twesten, R. D.; Gibson, J. Murray |
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