臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立中山大學	2000-01	Single-ended SRAM with high test coverage and short test time	C.C. Wang;C.F. Wu;R.T. Hwang; C.H. Kao
國立中山大學	2000	Single-ended SRAM with high test coverage and short test time	C.C. Wang;C.F. Wu;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1999-07	A low-power high-speed dynamic PLA circuit configuration for single-clock CMOS	C.C. Wang;C.F. Wu; R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1999-01	Dynamic NOR-NOR PLA Design with IDDQ Testability	C.F. Wu;C.C. Wang;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1999	Dynamic NOR-NOR PLA Design with IDDQ Testability	C.F. Wu;C.C. Wang;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1999	A low-power high-speed dynamic PLA circuit configuration for single-clock CMOS	C.C. Wang;C.F. Wu;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1998-06	Design of single-ended SRAM with high test coverage and short test time	C.F. Wu;C.C. Wang;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1997-12	A low-power and high-speed dynmaic PLA circuit configurationfor single-clock CMOS	C.C. Wang;C.F. Wu;R.T. Hwang;C.H. Kao
國立中山大學	1997-09	IDDQ testable configuration for PLAs by transformation into inverters	C.F. Wu;C.C. Wang;R.T. Hwang;C.H. Kao

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