| 國立交通大學 |
2015-07-21T08:28:33Z |
Cycling-Induced SET-Disturb Failure Time Degradation in a Resistive Switching Memory
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Chung, Yueh-Ting; Su, Po-Cheng; Cheng, Yu-Hsuan; Wang, Tahui; Chen, Min-Cheng; Lu, Chih-Yuan |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:51:20Z |
次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:50:25Z |
次50奈米二位元儲存氮化矽快閃式記憶體元件之結構、電荷傳輸與可靠性研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:47:45Z |
薄氧化層中漏電流與Soft Breakdown特性與機制研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:46:43Z |
次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:46:03Z |
電阻式記憶元件操作特性與可靠性之統計測量及三度空間原子與電荷傳輸模擬
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:45:53Z |
奈米SONOS元件內單電子效應、可靠性物理及創新研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:44:07Z |
量子線矽、鍺、砷化鎵奈米CMOS元件內電荷傳輸模擬與可靠性
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:42:19Z |
奈米SONOS元件內單電子效應，可靠性物理及創新研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:42:17Z |
量子線矽、鍺、砷化鎵奈米CMOS元件內電荷傳輸模擬與可靠性
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:41:37Z |
CMOS發光顯像技術與閘極介電層材料研究---中加合作案(I)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:41:11Z |
量子線矽、鍺、砷化鎵奈米CMOS元件內電荷傳輸模擬與可靠性
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:41:10Z |
奈米SONOS元件內單電子效應，可靠性物理及創新研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:40:16Z |
三維微電子真空元件模擬器
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:50Z |
次微米元件內熱載子所產生界面缺陷對元件特性的影響
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:41Z |
超薄閘極氧化層元件可靠性研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:39:39Z |
量子井元件內量子侷限效應對於光電特性影響之研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:38:52Z |
950至2050MHz砷化鎵單晶微波積體電路降頻器之設計、模擬與量測
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:38:51Z |
金氧半電晶體內界面缺陷所產生汲極漏電流的物理機制與實驗量測
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:38:07Z |
深次微米MOSFET元件可靠性研究---子計畫二：利用改良式浮動閘極法測量氧化層內缺陷所造成之漏電流與理論分析(II)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:38:07Z |
次微米元件內氧化層缺陷暫態特性量測技術
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:38:06Z |
單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:37:11Z |
穿隧氧化層內漏電流之暫態特性與物理機制
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:36:59Z |
深次微米元件內熱載子效應所造成汲極漏電流特性退化之研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:36:19Z |
RF CMOS 雜訊分析與可靠性研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:36:03Z |
CMOS發光顯像技術與閘極介電層材料研究---中加合作案(II)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:35:26Z |
一種新式氮化矽快閃式記憶元件研究(I)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:35:03Z |
一種新式氮化矽快閃式記憶元件研究(II)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:34:14Z |
超薄閘極氧化層CMOS元件軟崩潰效應研究(I)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:33:38Z |
超薄閘極氧化層CMOS元件軟崩潰效應研究(II)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:33:04Z |
雙位元儲存氮化矽快閃式記憶元件技術及可靠性(I)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:32:13Z |
奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(I)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:32:05Z |
雙位元儲存氮化矽快閃式記憶元件技術及可靠性(II)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:31:01Z |
雙位元儲存氮化矽快閃式記憶元件技術及可靠性(III)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:30:53Z |
電阻式記憶元件操作特性與可靠性之統計測量及三度空間原子與電荷傳輸模擬
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:30:06Z |
奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(II)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:29:52Z |
奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(III)
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:29:48Z |
次50奈米二位元儲存氮化矽快閃式記憶體元件之結構、電荷傳輸與可靠性研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:29:41Z |
RF CMOS之特性量測、模式建立與可靠性研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:28:37Z |
次50奈米二位元儲存氮化矽快閃式記憶體元件之結構、電荷傳輸與可靠性研究
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:28:34Z |
單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:28:33Z |
次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬
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汪大暉; WANG TAHUI |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:51:24Z |
先進互補式金氧半電晶體及氮化矽快閃式記憶元件之可靠度分析和蒙地卡羅模擬
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唐俊榮; Tang, Chun-Jung; 汪大暉; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:47:19Z |
超薄氧化層絕緣層上覆矽元件中軟式崩潰所引發之可靠性議題的探討
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陳旻政; Chen, Min-Cheng; 汪大暉; Wang Tahui |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:33:39Z |
高介電係數閘極電晶體之負偏壓溫度不穩定性引致臨界電壓改變量分佈之統計特性和模式
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李啟偉; Li, Chi-Wei; 汪大暉; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:33:38Z |
氧化鉿電阻式記憶體之隨機電報雜訊分析與蒙地卡羅模擬
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黃子譯; Huang,Tzu-I; 汪大暉; Wang,Tahui |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:24:10Z |
Characterization and SPICE Modeling of High Voltage LDMOS
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邵晉輝; Shao, Jin-huei; 汪大暉; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:20:45Z |
穿遂氧化層漏電流之特性與模擬
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葉致鍇; Yeh, Chih-Chieh; 汪大暉; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:17:23Z |
金氧半電晶體內界面缺陷所產生汲極漏電流的溫度效應
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劉家瑋; Liu, Chia-Wei; 汪大暉; Wang Tahui |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T01:55:07Z |
高介電係數金屬閘極平面式浮置閘極快閃記憶體特性及其微縮模擬
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房定樺; Fang, Ding-Hua; 汪大暉; Wang, Tahui |
