臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2015-07-21T08:28:33Z	Cycling-Induced SET-Disturb Failure Time Degradation in a Resistive Switching Memory	Chung, Yueh-Ting; Su, Po-Cheng; Cheng, Yu-Hsuan; Wang, Tahui; Chen, Min-Cheng; Lu, Chih-Yuan
國立交通大學	2014-12-13T10:51:20Z	次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:50:25Z	次50奈米二位元儲存氮化矽快閃式記憶體元件之結構、電荷傳輸與可靠性研究	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:47:45Z	薄氧化層中漏電流與Soft Breakdown特性與機制研究	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:46:43Z	次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:46:03Z	電阻式記憶元件操作特性與可靠性之統計測量及三度空間原子與電荷傳輸模擬	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:45:53Z	奈米SONOS元件內單電子效應、可靠性物理及創新研究	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:44:07Z	量子線矽、鍺、砷化鎵奈米CMOS元件內電荷傳輸模擬與可靠性	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:42:19Z	奈米SONOS元件內單電子效應，可靠性物理及創新研究	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:42:17Z	量子線矽、鍺、砷化鎵奈米CMOS元件內電荷傳輸模擬與可靠性	汪大暉; WANG TAHUI

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