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機構 日期 題名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:06:05Z THE DISTORTION OF THE INTERFACE-STATE SPECTRUM DUE TO NONEQUILIBRIUM OCCUPANCY OF THE INTERFACE STATES AT THE METAL-SEMICONDUCTOR INTERFACE TSENG, HH; WU, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:06:05Z THE EFFECTS OF THERMAL NITRIDATION CONDITIONS ON THE RELIABILITY OF THIN NITRIDED OXIDE-FILMS TSAI, HH; WU, LC; WU, CY; HU, CM
國立交通大學 2014-12-08T15:06:05Z A NEW STRUCTURE-ORIENTED MODEL FOR WELL RESISTANCE IN CMOS LATCHUP STRUCTURES CHEN, MJ; SZE, SC; CHEN, HH; WU, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:06:05Z A SIMPLE INTERFACIAL-LAYER MODEL FOR THE NONIDEAL IV AND C-V CHARACTERISTICS OF THE SCHOTTKY-BARRIER DIODE TSENG, HH; WU, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:06:04Z AN ANALYTIC IV MODEL FOR LIGHTLY DOPED DRAIN (LDD) MOSFET DEVICES HUANG, GS; WU, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:06:04Z SUPERIOR CHARACTERISTICS OF THERMAL OXIDE LAYERS GROWN ON AMORPHOUS-SILICON FILMS WU, CY; CHEN, CF
國立交通大學 2014-12-08T15:06:03Z A NEW APPROACH TO ANALYTICALLY SOLVING THE TWO-DIMENSIONAL POISSON EQUATION AND ITS APPLICATION IN SHORT-CHANNEL MOSFET MODELING LIN, PS; WU, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:06:03Z A SIMPLIFIED COMPUTER-ANALYSIS FOR NORMAL-WELL GUARD RING EFFICIENCY IN CMOS CIRCUITS CHEN, MJ; WU, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:06:03Z THE DIELECTRIC RELIABILITY OF INTRINSIC THIN SIO2-FILMS THERMALLY GROWN ON A HEAVILY DOPED SI SUBSTRATE - CHARACTERIZATION AND MODELING CHEN, CF; WU, CY; LEE, MK; CHEN, CN
國立交通大學 2014-12-08T15:06:03Z TRANSPORT-PROPERTIES OF THERMAL OXIDE-FILMS GROWN ON POLYCRYSTALLINE SILICON - MODELING AND EXPERIMENTS WU, CY; CHEN, CF

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