臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:05Z	An experimental ultra-low-voltage demodulator in 0.18 µm CMOS	L.-S. Lai;H.-H. Hsieh;P.-S. Weng;L.-H. Lu; L.-S. Lai; H.-H. Hsieh; P.-S. Weng; L.-H. Lu; LIANG-HUNG LU
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:05Z	Small- and large-signal operation of X-band CE and CB SiGe/Si power HBT’s	J.-S. Rieh; L.-H. Lu; Z. Ma; X. Liu; P. B. K. Katehi; P. Bhattacharya; E. T. Croke; LIANG-HUNG LU
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:05Z	A Low-Jitter 8GHz to 10GHz Distributed DLL for Multiple-Phase Clock Generation	K-J Hsian;Tai-Cheng Lee; K-J Hsian; Tai-Cheng Lee; TAI-CHENG LEE
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:06Z	Time-space test response compaction and diagnosis based on BCH codes	F. M. Wang;W.-C. Wang;J. C-M. Li; F. M. Wang; W.-C. Wang; J. C-M. Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:06Z	Transition Fault Diagnosis Using At-speed Test Patterns	Shang-Feng Chao;Jheng-Yang Ciou;James Chien-Mo Li; Shang-Feng Chao; Jheng-Yang Ciou; James Chien-Mo Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:06Z	Bridging Fault Diagnosis to Identify the Layer of Systematic Defects	B. R. Chen;J. C.M. Li; B. R. Chen; J. C.M. Li; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:07Z	Very-Low-Voltage Testing of Amorphous Silicon TFT Circuits	Shiue-Tsung Shen,;Wei-Hsiao Liu,;En-Hua Ma,;J. C.-M. Li,;I-Chun Cheng,; Shiue-Tsung Shen,; Wei-Hsiao Liu,; En-Hua Ma,; J. C.-M. Li,; I-Chun Cheng,; I-CHUN CHENG; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:07Z	Power Scan: DFT for Power Switches in VLSI Designs	B. C. Bai; B. C. Bai; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:08Z	Fault Modeling and Testing of Retention Flip-Flops in Low Power Designs	B. C. Bai;A. K Li;J. C.M. Li;K. C. Wu; B. C. Bai; A. K Li; J. C.M. Li; K. C. Wu; CHIEN-MO LI
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:08Z	BIST Design Optimization for Large-Scale Embedded Memory Cores	T.-F. Chien;W.-C. Chao;J. C.-M. Li;K.-Y. Liao;Y.-W. Chang;M.-T. Chang;M.-H. Tsai;C.-M. Tseng; T.-F. Chien; W.-C. Chao; J. C.-M. Li; K.-Y. Liao; Y.-W. Chang; M.-T. Chang; M.-H. Tsai; C.-M. Tseng; CHIEN-MO LI

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