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教育部委託研究計畫 計畫執行:國立臺灣大學圖書館
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| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:06:32Z |
TI-TIO2 GATED MOS DIODE LIGHT SENSOR
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2014-12-08T15:06:31Z |
METAL-N-GAP SCHOTTKY-BARRIER HEIGHTS
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LEI, TF; LEE, CL; CHANG, CY |
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2014-12-08T15:06:26Z |
DEPLETION WIDTHS OF THE METAL-INSULATOR SEMICONDUCTOR (MIS) STRUCTURE
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JEN, CW; LEE, CL; LEI, TF |
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2014-12-08T15:06:15Z |
A SIMPLE METHOD FOR SINGLE-FREQUENCY OPERATION AND AMPLITUDE-STABILIZATION AND FREQUENCY-STABILIZATION OF AN INTERNAL-MIRROR HE-NE-LASER
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PAN, CL; KUO, CC; HSIEH, TC; LEI, TF |
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2014-12-08T15:06:14Z |
SENSITIVITY OF FREQUENCY STABILITY OF 2-MODE INTERNAL-MIRROR HE-NE LASERS TO MISALIGNMENT OF POLARIZING OPTICS
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PAN, CL; JEAN, PY; KUO, CC; HSIEH, TC; LEI, TF |
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2014-12-08T15:06:12Z |
SELECTIVE EPITAXY ON SILICON BY ATMOSPHERIC-PRESSURE SIH4-HCL CVD
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HSIEH, TP; LEE, CL; LEI, TF |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:06:11Z |
A VERTICAL KELVIN TEST STRUCTURE FOR MEASURING THE TRUE SPECIFIC CONTACT RESISTIVITY
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LEI, TF; LEU, LY; LEE, CL |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:06:03Z |
ELLIPSOMETRY MEASUREMENTS ON SIO2-FILMS FOR THICKNESSES UNDER 200-A
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HO, JH; LEE, CL; JEN, CW; LEI, TF |
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2014-12-08T15:06:01Z |
THE PD-ZN SYSTEM FOR OHMIC CONTACTS TO P-TYPE GAP
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LEI, TF; JENG, GK |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:06:00Z |
THE SPREADING RESISTANCE ERROR IN THE VERTICAL KELVIN TEST RESISTOR STRUCTURE FOR THE SPECIFIC CONTACT RESISTIVITY
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LEE, CL; YANG, WL; LEI, TF |
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