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机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	1994-03	Direct synthesis of hazard-free asynchronous circuits from STGs based on lock relation and MG-decomposition approach	Lin, Kuan-Jen; Kuo, Jih-Wen; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994-02	Direct Synthesis of Hazard-Free Asynchronous Circuits from STGs Based on Lock Relation and MG-Decomposition Approach	Lin, K. J.; Kuo, J. W.; 林呈祥; Lin, K. J.; Kuo, J. W.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	超大型積體電路電腦輔助設計系統I-4:非同步電路	林呈祥; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	HyHOPE:a Fast Fault Simulator with Efficient Simulation of Hypertrophic Faults	Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	Optimized Synthesis of Hazard-Free Asynchronous Circuits	Lin, K. J.; Kuo, J. W.; 林呈祥; Lin, K. J.; Kuo, J. W.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	Reducing Hypertrophic Fault Events in Sequential Fault Simulation	Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	Test Time Reduction for Scan-Designed Circuits by Sliding Compatibility	Chang, J. S.; 林呈祥; Chang, J. S.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1994	在MCM環境下之測試樣本產生系統	林少傑; 林呈祥; 林少傑; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1993-08	Automatic Synthesis of Hazard Free Asynchronous Circuits Based on Transitive Lock Relation	Lin, K.; Kuo, J.; 林呈祥; Lin, K.; Kuo, J.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1993-08	Building BDDs with Ordering-Reshuffle Strategy	Yeh, F.; 林呈祥; Yeh, F.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1993-02	Test time reduction in scan designed circuits	Lai, Wen-Joung; Kung, Chen-Pin; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1993	多晶片模組設計自動化與測試系統總計劃(I)	林呈祥; 郭斯彥; Lin, Chen-Shang; Kuo, Sy-Yen
國立臺灣大學	1993	自動設計驗證及測試樣本產生	林呈祥; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1993	非同步電路設計合成之研究(II)	龐台銘; 林呈祥; Parng, Tai-Ming; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1993	On the OBDD-Representation of General Boolean Functions	Liaw, H.; 林呈祥; Liaw, H.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1993	Test Time Reduction in Scan Designed Circuits	Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lai, W.; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1993	超大型積體電路電腦輔助設計系統I-4:非同步電路	林呈祥; Lin, Chen-Shang
淡江大學	1992-11-26	Test set compaction for combinational circuits	張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang
國立臺灣大學	1992-11	On the verification of state-coding in STGs	Lin, Kuan- Jen; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1992-11	Test set compaction for combinational circuits	Chang, Jau-Shien; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1992-11	Test Reduction in Scan-Designed Circuits	Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lai, W.; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1992-11	Test Set Compaction for Combinational Circuits	Chang, J.; 林呈祥; Chang, J.; Lin, Chen-Shang
淡江大學	1992-06-01	On the OBDD-representation of general Boolean functions	廖賀田; Liaw, Heh-tyan; Lin, Chen-shang
國立臺灣大學	1992-03	A realization algorithm of asynchronous circuits from STG	Lin, Kuan-Jen; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學	1992-03	Parallel sequence fault simulation for synchronous sequential circuits	Kung, Chen-Pin; Lin, Chen-Shang

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