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機構 日期 題名 作者
國立臺灣大學 1994-03 Direct synthesis of hazard-free asynchronous circuits from STGs based on lock relation and MG-decomposition approach Lin, Kuan-Jen; Kuo, Jih-Wen; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1994-02 Direct Synthesis of Hazard-Free Asynchronous Circuits from STGs Based on Lock Relation and MG-Decomposition Approach Lin, K. J.; Kuo, J. W.; 林呈祥; Lin, K. J.; Kuo, J. W.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1994 超大型積體電路電腦輔助設計系統I-4:非同步電路 林呈祥; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1994 HyHOPE:a Fast Fault Simulator with Efficient Simulation of Hypertrophic Faults Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1994 Optimized Synthesis of Hazard-Free Asynchronous Circuits Lin, K. J.; Kuo, J. W.; 林呈祥; Lin, K. J.; Kuo, J. W.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1994 Reducing Hypertrophic Fault Events in Sequential Fault Simulation Kung, C.; 林呈祥; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1994 Test Time Reduction for Scan-Designed Circuits by Sliding Compatibility Chang, J. S.; 林呈祥; Chang, J. S.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1994 在MCM環境下之測試樣本產生系統 林少傑; 林呈祥; 林少傑; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1993-08 Automatic Synthesis of Hazard Free Asynchronous Circuits Based on Transitive Lock Relation Lin, K.; Kuo, J.; 林呈祥; Lin, K.; Kuo, J.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1993-08 Building BDDs with Ordering-Reshuffle Strategy Yeh, F.; 林呈祥; Yeh, F.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1993-02 Test time reduction in scan designed circuits Lai, Wen-Joung; Kung, Chen-Pin; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1993 多晶片模組設計自動化與測試系統總計劃(I) 林呈祥; 郭斯彥; Lin, Chen-Shang; Kuo, Sy-Yen
國立臺灣大學 1993 自動設計驗證及測試樣本產生 林呈祥; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1993 非同步電路設計合成之研究(II) 龐台銘; 林呈祥; Parng, Tai-Ming; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1993 On the OBDD-Representation of General Boolean Functions Liaw, H.; 林呈祥; Liaw, H.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1993 Test Time Reduction in Scan Designed Circuits Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lai, W.; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1993 超大型積體電路電腦輔助設計系統I-4:非同步電路 林呈祥; Lin, Chen-Shang
淡江大學 1992-11-26 Test set compaction for combinational circuits 張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang
國立臺灣大學 1992-11 On the verification of state-coding in STGs Lin, Kuan- Jen; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1992-11 Test set compaction for combinational circuits Chang, Jau-Shien; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1992-11 Test Reduction in Scan-Designed Circuits Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lai, W.; Kung, C.; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1992-11 Test Set Compaction for Combinational Circuits Chang, J.; 林呈祥; Chang, J.; Lin, Chen-Shang
淡江大學 1992-06-01 On the OBDD-representation of general Boolean functions 廖賀田; Liaw, Heh-tyan; Lin, Chen-shang
國立臺灣大學 1992-03 A realization algorithm of asynchronous circuits from STG Lin, Kuan-Jen; Lin, Chen-Shang
國立臺灣大學 1992-03 Parallel sequence fault simulation for synchronous sequential circuits Kung, Chen-Pin; Lin, Chen-Shang

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