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國立臺灣大學 2007-09 ??W?Wsf^UPi f; eY
國立臺灣大學 1992 ?w?r酮藥物之藥理學研究 蔡明正; Tsai, Ming-Cheng
國立臺灣大學 1992 ?w?r酮類衍生物對神經冗傳導之作用 蔡明正; Tsai, Ming-Cheng
國立成功大學 2016-08-30 W2(煤油基)/過氧化氫推進劑液旋噴注機構之自燃特性分析 郭俊淇; Guo, Jyun-Ci
國立成功大學 2019-07-18 W2/H2O2液旋式噴注器之異相觸媒對自燃點火的影響 唐馨; Tang, Hsin
國立成功大學 2019-07-18 W2/H2O2液旋式噴注器之異相觸媒對自燃點火的影響 唐馨; Tang, Hsin
國立成功大學 2018-07-05 W2/過氧化氫液旋式噴注器之設計與分析 莊博凱; Chuang, Po-Kai
國立成功大學 2018-07-05 W2/過氧化氫液旋式噴注器之設計與分析 莊博凱; Chuang, Po-Kai
臺大學術典藏 2020-07-10T08:16:29Z W4M - A tool to simplify psychophysical research Carney, T.;Hill, T.;Chen, C.-C.; Carney, T.; Hill, T.; Chen, C.-C.; CHIEN-CHUNG CHEN
臺大學術典藏 2021-08-20T08:19:55Z W?nderlich syndrome from lupus-associated vasculitis CHIA-TER CHAO; Wang W.-J.; Ting J.-T.
元智大學 2007-12 Wabi-Sabi 謝慧中
元智大學 2007-12 Wabi-Sabi 謝慧中
國立政治大學 1996 WAC'96 趙玉
國立臺灣體育運動大學 2000-11-15 WADA(國際反禁藥組織)計劃在7城市設址 未知
國立臺灣科技大學 1999 WADGPS廣域修正信號之研究 陳志忠
臺大學術典藏 2022-04-26T06:17:51Z Wafer Bin Map Recognition with Autoencoder-based Data Augmentation in Semiconductor Assembly Process Shen P;Lee C.; Shen P; Lee C.; CHIA-YEN LEE
國立成功大學 2022 Wafer Bin Map Recognition with Autoencoder-Based Data Augmentation in Semiconductor Assembly Process Shen, P.-C.;Lee, C.-Y.
國立交通大學 2014-12-08T15:44:55Z Wafer bonding by low-temperature soldering Lee, C; Huang, WF; Shie, JS
國立交通大學 2014-12-08T15:40:21Z Wafer bonding by Ni-induced crystallization of amorphous silicon Chao, CP; Wu, YCS; Lee, TL; Wang, YH
國立交通大學 2014-12-08T15:19:18Z Wafer bonding for high-brightness light-emitting diodes via indium tin oxide intermediate layers Liu, PC; Hou, CY; Wu, YCS
國立彰化師範大學 2000 Wafer Bonding of 50 Mms Diameter Mirror Substrate to AlGaInP Light-emitting Diode Wafer Seieh, C. H. ; Horng, R. H. ; Huang, Man-Fang; Wuu, D. S. ; Peng, W. C. ; Tsai, S. J. ; Liu, J. S.
國立彰化師範大學 2001 Wafer Bonding of 50-mm-Diameter Mirror Substrates to AlGaInP Light-Emitting Diode Wafers Horng, R. H. ; Wuu, D. S. ; Seieh, C. H. ; Peng, W. C. ; Huang, Man-Fang; Tsai, S. J. ; Liu, J. S.
國立交通大學 2014-12-08T15:26:16Z Wafer bonding using indium tin oxide intermediate layer for high brightness LEDs Liu, PC; Hou, CY; Wu, YCS
國立臺灣海洋大學 2009-12 Wafer Defect Inspection by Neural Analysis of Region Features Chuan-Yu Chang; Chun-Hsi Li; Yung-Chi Chang; MuDer Jeng
國立交通大學 2014-12-08T15:09:01Z Wafer defect pattern recognition by multi-class support vector machines by using a novel defect cluster index Chao, Li-Chang; Tong, Lee-Ing

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