臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
義守大學	2002	積體電路板元件自動化檢驗之研究(II)	吳文言
輔英科技大學	2005	積體電路板熱解特性分析與氣態污染物控制研究	馬森義
國立中山大學	2001-06-22	積體電路構裝之電模型化研究	吳松茂
朝陽科技大學	1999-10	積體電路構裝制程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究	林宏達;朱達宏; Hong-Dar Lin;Dar-Hong Ju
朝陽科技大學	1999-10	積體電路構裝制程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究	林宏達;朱達宏; Hong-Dar Lin;Dar-Hong Ju
國立成功大學	2015-01-09	積體電路熱模擬裝置及方法	邱瀝毅;呂良盈
淡江大學	2012	積體電路燒錄測試裝置	饒建奇; 錢威; 簡世超
臺大學術典藏	1997	積體電路生產敏捷性的提昇	周雍強; 周雍強
國立臺灣大學	1997	積體電路生產敏捷性的提昇	周雍強
國立交通大學	2014-12-12T02:13:07Z	積體電路生產線上利用群聚分析之修正缺點數管制圖	劉宗明; T.M.Liu; 唐麗英；李威儀; Lee-Ing Tong;Wei-I Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:14:36Z	積體電路生產線上利用類神經網路方法修正缺陷群聚現象之管制圖	王永慶; Wang, Yung-Ching; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學	2014-12-13T10:38:27Z	積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖	唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學	2014-12-12T02:14:36Z	積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究	黃建隆; Huang, Chien-Lung; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學	2014-12-12T02:22:14Z	積體電路生產線上結合缺陷數與缺陷群聚之Hotelling T2多變量管制圖	吳炤華; Wu Chao-Hwa; 唐麗英; Prof. Lee-Ing Tong
國立交通大學	2014-12-12T02:24:37Z	積體電路生產線上結合缺陷數與群聚指標之Hotelling T2多變量管制圖	黃志力; Chih Li Huang; 唐麗英; Lee-Ing Tong
國立交通大學	2014-12-13T10:38:10Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象之修正良率模式	唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學	2014-12-12T02:12:54Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象的製程管制圖	曾乙弘; Tseng, Yi-Horng; 唐麗英; 李威儀; Tong, Lee-Ing; Lee, Wei-I
國立交通大學	2014-12-12T02:14:35Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象管制程序之研究	楊月美; Yang, Yue-Mei; 唐麗英, 李威儀; Lee-Ing Tong, Wei-I Lee
國立交通大學	2014-12-12T03:00:52Z	積體電路產品之元件充電模式靜電放電測試與研究	黃志國; Huang, Chih-Kuo; 柯明道; Ker, Ming-Dou
中華大學	2015	積體電路產品可靠度驗證評估系統	謝竣丞; Hsieh, Chun-Cheng
淡江大學	2009	積體電路產品品質 : 顧客滿意度與通路策略-以H公司為例	鍾雅晴; Chung, Ya-ching
朝陽科技大學	2005-12-31	積體電路產品封裝後溫度循環試驗結果改善探討—以光學讀取元件（PDIC）的封裝作業實驗計畫法為例	顏子殷; Yen, Tzu-Yin
國立成功大學	2013-02-04	積體電路產品故障分析與技術比較	王英樹; Wang, Ying-Shu
中華大學	2005	積體電路產業主管對不同職務員工職能重視程度之研究	蔡明春; Tsai, Ming-Chun
國立臺灣大學	2002	積體電路產業白領員工之工作壓力與身心症狀之相關性研究—KARASEK與SIEGRIST 之工作壓力模式比較	YEH, WAN-YU; CHEN, DUAN-RUNG; CHEN, WEI-JANE; 葉婉榆; 陳端容; 陳為堅

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