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机构	日期	题名	作者
淡江大學	1991-09	Latched CMOS differential logic(LCDL)for complex high-speed VLSI	Wu, Chung-yu; 鄭國興; Cheng, Kuo-hsing
淡江大學	1989-09	Latched CMOS differential logic(LCDL)for complex high-speed VLSI	Wu, Chung-yu; Cheng, Kuo-hsing
國立交通大學	2014-12-08T15:26:38Z	Latchup current self-stop circuit for whole-chip latchup prevention in bulk CMOS integrated circuits	Peng, JJ; Ker, MD; Jiang, HC
國立交通大學	2018-08-21T05:56:56Z	Latchup in Bulk FinFET Technology	Dai, C. -T.; Chen, S. -H.; Linten, D.; Scholz, M.; Hellings, G.; Boschke, R.; Karp, J.; Hart, M.; Groeseneken, G.; Ker, M. -D.; Mocuta, A.; Horiguchi, N.
國立交通大學	2014-12-08T15:40:31Z	Latchup-free ESD protection design with complementary substrate-triggered SCR devices	Ker, MD; Hsu, KC
國立交通大學	2014-12-08T15:15:15Z	Latchup-like failure of power-rail ESD clamp circuits in CMOS integrated circuits under system-level ESD test	Ker, Ming-Dou; Yen, Cheng-Cheng
臺大學術典藏	2020-02-11T01:41:50Z	Late acute pancreatitis after pancreaticoduodenectomy: incidence, outcome, and risk factors	Tien Y.-W.; Yen H.-H.;Ho T.-W.;Wu C.-H.;Kuo T.-C.;Jin-Ming Wu;Yang C.-Y.;Tien Y.-W.; Yen H.-H.; Ho T.-W.; Wu C.-H.; Kuo T.-C.; JIN-MING WU; Yang C.-Y.
臺大學術典藏	2020-02-20T02:56:52Z	Late acute pancreatitis after pancreaticoduodenectomy: incidence, outcome, and risk factors	Yen H.-H.;Ho T.-W.;Wu C.-H.;Kuo T.-C.;Wu J.-M.;Ching-Yao Yang;Tien Y.-W.; Yen H.-H.; Ho T.-W.; Wu C.-H.; Kuo T.-C.; Wu J.-M.; CHING-YAO YANG; Tien Y.-W.
臺大學術典藏	2020-02-20T06:53:03Z	Late acute pancreatitis after pancreaticoduodenectomy: incidence, outcome, and risk factors	Ho T.-W.; Wu C.-H.; Kuo T.-C.; Wu J.-M.; Yang C.-Y.; YU-WEN TIEN; Yen H.-H.;Ho T.-W.;Wu C.-H.;Kuo T.-C.;Wu J.-M.;Yang C.-Y.;Yu-Wen Tien; Yen H.-H.
臺大學術典藏	2020-09-29T06:53:02Z	Late acute pancreatitis after pancreaticoduodenectomy: incidence, outcome, and risk factors	Tien Y.-W.; Yang C.-Y.; Wu J.-M.; TING-CHUN KUO; Wu C.-H.; Ho T.-W.; Yen H.-H.

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