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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2019-07-15T04:24:37Z	Optical characterization of the Au nanoparticle monolayer on silicon wafer	Wang D.-S.;Chuang L.;Lin C.-W.; Wang D.-S.; Chuang L.; Lin C.-W.
國立臺灣科技大學	2009	Optical characterization of thin epitaxial GaAs films on Ge substrates	Wu J.D.; Huang Y.S.; Brammertz G.; Tiong K.K.
國立臺灣海洋大學	2009	Optical characterization of thin epitaxial GaAs films on Ge substrates	J. D. Wu; Y. S. Huang; G. Brammertz; K. K. Tiong
國立屏東大學	2006	Optical characterization of two-dimensional photonic crystals based on spectroscopic ellipsometry with rigorous coupled-wave analysis	張雯惠;Lin, CH;Chen, HL;Chao, WC;
國立屏東大學	2005	Optical characterization of two-dimensional photonic crystals based on spectroscopic ellipsometry with rigorous coupled-wave analysis	張雯惠;CH, Lin;Chen, HL;Chao, WC;Hsieh, CI;Chang, WH.
臺大學術典藏	2006	Optical Characterization of Two-dimensional Photonic Crystals Based on Spectroscopic Ellipsometry with Rigorous Coupled-Wave Analysis	Chang, Wen-Huei; Hsieh, Chung-I; Chao, Wen-Chi; Chen, Hsuen-Li; Lin, Chun-Hung; Lin, Chun-Hung; Chen, Hsuen-Li; Chao, Wen-Chi; Hsieh, Chung-I; Chang, Wen-Huei
國立成功大學	2006	Optical characterization of two-dimensional photonic crystals based on spectroscopic ellipsometry with rigorous coupled-wave analysis	Lin, Chun-Hung; Chen, Hsuen-Li; Chao, Wen-Chi; Hsieh, Chung-I; Chang, Wen-Huei
國立臺灣大學	2006	Optical Characterization of Two-dimensional Photonic Crystals Based on Spectroscopic Ellipsometry with Rigorous Coupled-Wave Analysis	Lin, Chun-Hung; Chen, Hsuen-Li; Chao, Wen-Chi; Hsieh, Chung-I; Chang, Wen-Huei
國立臺灣科技大學	2014	Optical characterization of undoped and Au-doped MoS2 single crystals	Sigiro M., Huang Y.-S., Ho C.-H.
國立臺灣大學	1999	Optical characterization of visible multiquantum-well semiconductor lasers by collection/excitation modes of scanning near-field optical microscopy	Lu, N. H.; Tsai, D. P.; Chang, C. S.; T. T. Tsong

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