臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立高雄第一科技大學	2008.06	Failure analysis of a silane gas cylinder valve: A case study	Peng, Deng-Jr;Chang, Yo-Yu;Wu, Hong-Chun;Tsaur, Charng-Cheng;Chen, Jenq-Renn
義守大學	2002-12	Failure analysis of BGA package by a TDR approach	Ming-Kun Chen;Cheng-Chi Tai;Yu-Jung Huang;I-Chih Wu
義守大學	2012-10	Failure analysis of Cu electroplating process with Polyimide substrate fabricated for flexible packaging	Ying-Chih Wu;Yu-Jung Huang;Ming-Kun Chen;Yi-Lung Lin;Shen-Li Fu
義守大學	2014-02	Failure analysis of EOS-induced damage at final electrical testing	Ming-Kun Chen;Yu-Jung Huang;Chi-Chan Cheng;Yi-Lung Lin;Shen-Li Fu
國立交通大學	2014-12-08T15:26:28Z	Failure analysis of ESD damage in a high-voltage driver IC and the effective ESD protection solution	Ker, MD; Peng, JJ; Jiang, HC
國立成功大學	2015-12-15	Failure analysis of fiber-reinforced composite laminates subjected to biaxial loads	Hu, Hsuan-Teh; Lin, Wen-Pin; Tu, Fang-Tai
國立交通大學	2017-04-21T06:48:54Z	Failure Analysis of Gate-all-around Nanowire Field Effect Transistor Under TLP Test	Zhang, Guoyan; Dong, Aihua; Liu, Nie; Tian, Rui; Yang, Xuejiao; Liu, Zhiwei; Lee, Kohui; Lin, Horng-Chih; Liou, Juin J.; Wang Yuxin
國立成功大學	2012-03	Failure Analysis of Halogen-Free Printed Circuit Board Assembly Under Board-Level Drop Test	Chang, Hung-Jen; Zhan, Chau-Jie; Chang, Tao-Chih; Chou, Jung-Hua
國立高雄應用科技大學	2008	Failure analysis of pad-height effects in the fine-pitch interconnection of the anisotropic conductive films	Lin, Chao-Ming; Lin, Tzu-Chao; Fang, Te-Hua; Chao, Kuo-Sheng
亞洲大學	2012-09	Failure Analysis of Power MOSFETs based on Multi-finger Configuration under Unclamped Inductive Switching (UIS) Stress Condition	楊紹明;Yang, Shao-Ming;蔡宗叡;Tsai, Jung-Ruey;許健;Sheu, Gene

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