臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:18:03Z	Thickness and optical constants measurement of thin film growth with circular heterodyne interferometry	Hsu, CC; Lee, JY; Su, DC
國立成功大學	2014-03	Thickness and Permittivity Measurement in Multi-Layered Dielectric Structures Using Complementary Split-Ring Resonators	Lee, Chieh-Sen; Yang, Chin-Lung
國立成功大學	2021	Thickness and Refractive Index Measurement System for Multilayered Samples	Liu;Chien-Sheng;Weng;Tzu-Yao
國立成功大學	2006-11	Thickness and stable isotopic characteristics of modern seasonal climate-controlled sub-annual travertine laminas in a travertine-depositing stream at Baishuitai, SW China: implications for paleoclimate reconstruction	Liu, Zaihua; Li, Hongchun; You, Chen-Feng; Wan, Naijung; Sun, Hailong
國立交通大學	2014-12-08T15:43:23Z	Thickness and stress polarity effects on the reliability of the low thermal budget polyoixdes	Chang, KM; Chung, YH; Chen, HY; Lee, TC; Sun, YL
臺大學術典藏	2015	Thickness controlled proximity effects in C-type antiferromagnet/superconductor heterostructure	Mani, A.; Geetha Kumary, T.; Lin, J. G.
國立交通大學	2014-12-08T15:39:00Z	Thickness dependence of Co anisotropy in TbFe/Co exchange-coupled bilayers	Lin, CC; Lai, CH; Wei, DH; Hsu, YJ; Shieh, HPD
大葉大學	2013-10-18	Thickness Dependence of Complex Permeability in Polycrystalline Perovskite La0.7Sr0.3MnO3	Yu, Hsiao-Wen;Chen, Jau Han
國立成功大學	2019	Thickness dependence of conductivity in Bi2Se3 topological insulator	Chistyakov, V.V.;Domozhirova, A.N.;Huang, J.C.A.;Marchenkov, V.V.
國立交通大學	2014-12-08T15:18:17Z	Thickness dependence of current conduction and carrier distribution of GaAsN grown on GaAs	Chen, JF; Hsiao, RS; Hsieh, MT; Huang, WD; Guo, PS; Lee, WI; Lee, SC; Lee, CL

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