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淡江大學 2012 積體電路燒錄測試裝置 饒建奇; 錢威; 簡世超
臺大學術典藏 1997 積體電路生產敏捷性的提昇 周雍強; 周雍強
國立臺灣大學 1997 積體電路生產敏捷性的提昇 周雍強
國立交通大學 2014-12-12T02:13:07Z 積體電路生產線上利用群聚分析之修正缺點數管制圖 劉宗明; T.M.Liu; 唐麗英;李威儀; Lee-Ing Tong;Wei-I Lee
國立交通大學 2014-12-12T02:14:36Z 積體電路生產線上利用類神經網路方法修正缺陷群聚現象之管制圖 王永慶; Wang, Yung-Ching; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學 2014-12-13T10:38:27Z 積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-12T02:14:36Z 積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究 黃建隆; Huang, Chien-Lung; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學 2014-12-12T02:22:14Z 積體電路生產線上結合缺陷數與缺陷群聚之Hotelling T2多變量管制圖 吳炤華; Wu Chao-Hwa; 唐麗英; Prof. Lee-Ing Tong
國立交通大學 2014-12-12T02:24:37Z 積體電路生產線上結合缺陷數與群聚指標之Hotelling T2多變量管制圖 黃志力; Chih Li Huang; 唐麗英; Lee-Ing Tong
國立交通大學 2014-12-13T10:38:10Z 積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象之修正良率模式 唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學 2014-12-12T02:12:54Z 積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象的製程管制圖 曾乙弘; Tseng, Yi-Horng; 唐麗英; 李威儀; Tong, Lee-Ing; Lee, Wei-I
國立交通大學 2014-12-12T02:14:35Z 積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象管制程序之研究 楊月美; Yang, Yue-Mei; 唐麗英, 李威儀; Lee-Ing Tong, Wei-I Lee
國立交通大學 2014-12-12T03:00:52Z 積體電路產品之元件充電模式靜電放電測試與研究 黃志國; Huang, Chih-Kuo; 柯明道; Ker, Ming-Dou
中華大學 2015 積體電路產品可靠度驗證評估系統 謝竣丞; Hsieh, Chun-Cheng
淡江大學 2009 積體電路產品品質 : 顧客滿意度與通路策略-以H公司為例 鍾雅晴; Chung, Ya-ching
朝陽科技大學 2005-12-31 積體電路產品封裝後溫度循環試驗結果改善探討—以光學讀取元件(PDIC)的封裝作業實驗計畫法為例 顏子殷; Yen, Tzu-Yin
國立成功大學 2013-02-04 積體電路產品故障分析與技術比較 王英樹; Wang, Ying-Shu
中華大學 2005 積體電路產業主管對不同職務員工職能重視程度之研究 蔡明春; Tsai, Ming-Chun
國立臺灣大學 2002 積體電路產業白領員工之工作壓力與身心症狀之相關性研究—KARASEK與SIEGRIST 之工作壓力模式比較 YEH, WAN-YU; CHEN, DUAN-RUNG; CHEN, WEI-JANE; 葉婉榆; 陳端容; 陳為堅
國立交通大學 2014-12-13T10:51:56Z 積體電路用化學品與材料開發 涂肇嘉
國立交通大學 2015-05-01T11:08:49Z 積體電路發明人傑克基爾比博士獲頒交大榮譽教授 編輯部
國立交通大學 2014-12-12T01:24:46Z 積體電路的訊號輸出入設計與靜電放電防護 黃紹璋; Huang, Shao-Chang; 陳科宏; Chen, Ke-Horng
國立臺灣大學 2004 積體電路相容微機電技術及其在微光學鏡面裝置上的應用 鄭英周; Cheng, Ying-Chou
國立臺灣大學 2004-07-31 積體電路相容微機電系統之研究(I)-總計畫 張培仁
國立臺灣大學 2003 積體電路相容微機電系統之研究(I)─子計畫四:積體電路相容微機電關鍵技術之研究 張培仁

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