臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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國立交通大學	2014-12-12T02:16:53Z	積體電路晶圓缺陷管制圖之經濟性設計	謝季亨; Hsieh, Jih-Heng; 唐麗英; Lee-Ing Tong
東海大學	1999	積體電路晶圓製造工業水資源之利用及污染防治之探討	顏佳新; Yen, Chia-Hsin
東海大學	2010	積體電路晶圓製造自主性流控設計下之壅塞疏解策略	徐志豪; Syu, Jhih-Hao
東海大學	2005-07-01	積體電路晶圓製造逆向思維之規劃與控制技術	劉力; Liu, Li
國立交通大學	2014-12-12T02:23:14Z	積體電路晶片在封裝前利用鎢探針量測系統及相關製程技術	王敬業; Jin-Yea Wang; 張國明; Kow-Ming Chang
國立臺灣科技大學	2004	積體電路晶片間的光互連研究	賴泓儒
義守大學	2001	積體電路板元件自動化檢驗之研究(I)	吳文言;江育民
義守大學	2002	積體電路板元件自動化檢驗之研究(II)	吳文言
輔英科技大學	2005	積體電路板熱解特性分析與氣態污染物控制研究	馬森義
國立中山大學	2001-06-22	積體電路構裝之電模型化研究	吳松茂
朝陽科技大學	1999-10	積體電路構裝制程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究	林宏達;朱達宏; Hong-Dar Lin;Dar-Hong Ju
朝陽科技大學	1999-10	積體電路構裝制程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究	林宏達;朱達宏; Hong-Dar Lin;Dar-Hong Ju
國立成功大學	2015-01-09	積體電路熱模擬裝置及方法	邱瀝毅;呂良盈
淡江大學	2012	積體電路燒錄測試裝置	饒建奇; 錢威; 簡世超
臺大學術典藏	1997	積體電路生產敏捷性的提昇	周雍強; 周雍強
國立臺灣大學	1997	積體電路生產敏捷性的提昇	周雍強
國立交通大學	2014-12-12T02:13:07Z	積體電路生產線上利用群聚分析之修正缺點數管制圖	劉宗明; T.M.Liu; 唐麗英；李威儀; Lee-Ing Tong;Wei-I Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:14:36Z	積體電路生產線上利用類神經網路方法修正缺陷群聚現象之管制圖	王永慶; Wang, Yung-Ching; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學	2014-12-13T10:38:27Z	積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖	唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學	2014-12-12T02:14:36Z	積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究	黃建隆; Huang, Chien-Lung; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學	2014-12-12T02:22:14Z	積體電路生產線上結合缺陷數與缺陷群聚之Hotelling T2多變量管制圖	吳炤華; Wu Chao-Hwa; 唐麗英; Prof. Lee-Ing Tong
國立交通大學	2014-12-12T02:24:37Z	積體電路生產線上結合缺陷數與群聚指標之Hotelling T2多變量管制圖	黃志力; Chih Li Huang; 唐麗英; Lee-Ing Tong
國立交通大學	2014-12-13T10:38:10Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象之修正良率模式	唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學	2014-12-12T02:12:54Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象的製程管制圖	曾乙弘; Tseng, Yi-Horng; 唐麗英; 李威儀; Tong, Lee-Ing; Lee, Wei-I
國立交通大學	2014-12-12T02:14:35Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象管制程序之研究	楊月美; Yang, Yue-Mei; 唐麗英, 李威儀; Lee-Ing Tong, Wei-I Lee

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